ESD- Tests für Halbleiter

Elektrostatische Entladung ( ESD) ist die schnelle , unkontrollierte Freisetzung und Übertragung von akkumulierten Strom zwischen zwei Quellen von unterschiedlichen elektrischen Fähigkeiten. In der Unterhaltungselektronik , elektrischen Überlast können (EOS) buchstäblich schmelzen Halbleitern. ESD -Tests versucht, zwei Parameter identifizieren : wie viel die Halbleiter umgehen kann und zu welchem ​​Stresslevel , in Strom gemessen wird, scheitert sie. Sobald informiert , können Produzenten und Verbraucher -Elektronik Aktionen und Reaktionen in elektrische Grenzen des Halbleiters zu halten. Charge- Device Model (CDM)

Charged Device Model (CDM) -Ereignis tritt ein , wenn das Gerät entlädt schnell von Kontakt mit einem anderen leitenden Oberfläche . Die Elektronikindustrie erfahren, als automatisierte Fertigung verursacht Geräte aus unerklärlichen Gründen nicht in den späten 1970er Jahren. Obwohl die Industrie angepasst , tauchte das Problem wieder mit der Produktion von dichter , leistungsfähigere Geräte, die über ein Gigahertz ( GHz). Die effizienteren Prozessoren bekommen , desto mehr Ladung durch Halbleiter behandelt . In einem 2010 -Update Industrie , berichtete die ESD Association, dass der Schaltkreis -Performance- Entwicklung führte zu einer erhöhten ESD-Ladung - Geräteereignisse zwischen 2005 und 2009. Die Halbleiter des modernen Lebens sind anfälliger für die aufgrund ihrer relativ niedrigen Spannungstoleranz ESD .

Threshold Daten

der erste Schlüssel zur Lösung dieses Rätsel liegt in der Bedienungsanleitung für Ihr Stück Elektronik . Die " Teildaten " Blatt oder Spezifikationen, zeigen Schwellendaten : Die maximale Strommenge der Halbleiter tolerieren können. Diese kommt mit einem mutigen Vorbehalt . Hüten Sie sich vor , dass die Schwelle Kapazitäten variieren sehr stark von Elektronik -Geräten. Ab 2011 war ein typisches Beispiel der Fähigkeit der Überspannungsschutz - Steckdosenleiste an andere Geräte eingesteckt zu deaktivieren. Die Zuverlässigkeit Analysis Center veröffentlicht auch die elektrostatische Entladung Anfälligkeit Daten für über 22.000 Geräte.
Elektromagnetische Pulse (EMP ) Daten

Elektromagnetische Pulsdaten zeigt der speziell - getestet Bruchpunkt für elektrisches Gerät Überlastung. Obwohl EMP -Daten können mit Schwellendaten entsprechen , können sie nicht überein. Die alten " VU " meter auf einem analogen Kassettendeck können ein wenig , ohne nachweisbare Verzerrung in der "roten" Zone Spike . Dies ist ein Beispiel von einem kleinen Überkapazitäten , die ein Produkt kann in der Lage , über der angegebenen Grenze Hersteller zu akzeptieren. Das gleiche gilt aber nicht für einen digitalen Audio-Aufnahmegerät : Jede Audiosignal, das in den roten Bereich Spikes werden , um Verzerrungen führen . Die Internationale Elektrotechnische Kommission (IEC) mit ihren 40 Mitgliedsstaaten hat ESD- Teststandards etabliert. Überprüfen Sie den Abschnitt Ressourcen für weitere Informationen.
Semiconductor Ausfälle

Nach Semtech , ist der führende ESD Ausfall in Metall- Oxid -Halbleiter Punch-Through . Das Oxid bricht durch extreme Überspannung . Je dünner das Oxid , desto größer ist die Empfindlichkeit . In einer Halbleiter insgesamt kurzen - Die elektrostatische Entladung genug Energie für eine ausreichende Dauer kann Kreuzung Burnout führen. Metallisierung Burnout bedeutet ein ESD- Impuls kann Metall des Halbleiters durch ohmsche ( Joule ) Heizung schmelzen. Nicht tödliche ESD kann parametrische Abbau verursachen: Leckage und Abbau der Teile , bis die Halbleiter vorzeitig ausfällt

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